发明名称 | 基于随机快轴方位角延迟阵列的动态干涉测量方法 | ||
摘要 | 发明公开了一种基于随机快轴方位角延迟阵列的动态干涉测量方法。步骤如下:采用延迟阵列作为动态干涉系统的移相器件,所述延迟阵列包含4个子波片且各子波片分别为λ/4片、λ/2片、3λ/4片、λ片,延迟阵列后方设置透振方向与水平方向夹角为45°的偏振片;在动态干涉仪测试臂中放置标准平面镜,通过CCD采集得到4个线性载频移相干涉图;对每个线性载频移相干涉图进行傅里叶变换,标定延迟阵列各子波片快轴方位角;在动态干涉仪的测试臂中放入待测件,调节待测件的倾斜俯仰及轴向离焦,得到同步移相干涉图;根据标定的各子波片快轴方位角和同步移相干涉图,处理得到待测件的相位分布。该方法快捷简单,适用于采用分光方案的动态干涉仪。 | ||
申请公布号 | CN103630336A | 申请公布日期 | 2014.03.12 |
申请号 | CN201310634494.4 | 申请日期 | 2013.12.02 |
申请人 | 南京理工大学 | 发明人 | 陈磊;李金鹏;郑东晖;周舒;宋乐;郑权 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人 | 朱显国 |
主权项 | 一种基于随机快轴方位角延迟阵列的动态干涉测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,采用延迟阵列作为动态干涉系统的移相器件,所述延迟阵列包含4个子波片且各子波片分别为λ/4片、λ/2片、3λ/4片、λ片,延迟阵列后方设置偏振片,该偏振片的透振方向与水平方向夹角为45°;步骤2,在动态干涉仪测试臂中放置标准平面镜,调整标准平面镜的倾斜俯仰使干涉图中的条纹数大于20根,通过CCD采集得到4个线性载频移相干涉图;步骤3,对每个线性载频移相干涉图进行傅里叶变换,标定延迟阵列各子波片快轴方位角;步骤4,在动态干涉仪的测试臂中放入待测件,调节待测件的倾斜俯仰及轴向离焦,得到同步移相干涉图;步骤5,根据步骤3标定的各子波片快轴方位角和步骤4中的同步移相干涉图,处理得到待测件的相位分布。 | ||
地址 | 210094 江苏省南京市孝陵卫200号 |