发明名称 基于光纤耦合器的小型化单光栅干涉测量系统及测量方法
摘要 一种基于光纤耦合器的小型化单光栅干涉测量系统及测量方法,该系统包括激光器、用于产生衍射的光栅、光纤耦合器和光电探测器,所述激光器输出的光经光纤传输并入射到光栅上形成各级衍射光;一组对称级次的衍射光通过耦合后进入光纤耦合器;该组衍射光在光纤耦合器中发生干涉后经光纤耦合器输出光干涉场信号,在光纤耦合器输出端设有记录输出光信号的光电探测器,后续电路对接收信号进行处理后得到光栅在某一方向的位移量。该方法为基于上述测量系统所进行的测量方法。本发明具有小型化、一体化、大量程、高精度等优点。
申请公布号 CN103575220A 申请公布日期 2014.02.12
申请号 CN201310533602.9 申请日期 2013.10.31
申请人 中国人民解放军国防科学技术大学 发明人 颜树华;魏春华;林存宝;王国超;邹鹏飞;罗玉昆;胡青青
分类号 G01B11/02(2006.01)I 主分类号 G01B11/02(2006.01)I
代理机构 湖南兆弘专利事务所 43008 代理人 赵洪;周长清
主权项 一种基于光纤耦合器的小型化单光栅干涉测量系统,其特征在于,包括激光器、用于产生衍射的光栅、光纤耦合器和光电探测器,所述激光器输出的光经光纤传输并入射到光栅上形成各级衍射光;一组对称级次的衍射光通过耦合后进入光纤耦合器;该组衍射光在光纤耦合器中发生干涉后经光纤耦合器输出光干涉场信号,在光纤耦合器输出端设有记录输出光信号的光电探测器,并对接收信号进行处理后得到光栅在某一方向的位移量。
地址 410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47号中国人民解放军国防科学技术大学机电工程与自动化学院