发明名称 测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法
摘要 测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法,其步骤依次是:制备金相样品并进行金相观察;通过金相分析得到视场内每个第二相的几何中心坐标(X Y),并将每一个坐标值保存到文本文件中;进行第二相均匀性测定:测定视场内所有第二相颗粒在二维平面内的平均最近邻、次最近邻的定义间距<img file="DDA0000403731380000011.GIF" wi="22" he="50" />和对应标准偏差σ<sub>t</sub>,并将平均最近邻、次最近邻的定义间距<img file="DDA0000403731380000012.GIF" wi="20" he="49" />和对应标准偏差σ<sub>t</sub>随试样位置变化绘成曲线图,通过曲线图直观反映第二相均匀性情况及随试样位置的变化。本发明把基体中第二相信息与数学方法相结合,其操作简单、结果准确可靠,适用于数目较多时的数据统计。其具有较大的经济价值和社会价值。
申请公布号 CN103558218A 申请公布日期 2014.02.05
申请号 CN201310525910.7 申请日期 2013.10.29
申请人 中国科学院金属研究所 发明人 李阁平;张利峰;李明远;王练;彭胜;吴松全;高博;顾恒飞;庞丽侠
分类号 G01N21/84(2006.01)I 主分类号 G01N21/84(2006.01)I
代理机构 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 代理人 樊南星
主权项 1.测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法,其特征在于:其步骤依次是:首先,制备金相样品并进行金相观察;然后,通过金相分析得到视场内每个第二相的几何中心坐标(X Y),并将每一个坐标值保存到文本文件中;最后,进行第二相均匀性测定:测定视场内所有第二相颗粒在二维平面内的平均最近邻、次最近邻的定义间距<img file="FDA0000403731350000011.GIF" wi="34" he="70" />和对应标准偏差σ<sub>t</sub>,随试样位置不同,选择对应的视场,测定相应的平均最近邻、次最近邻的定义间距<img file="FDA0000403731350000012.GIF" wi="22" he="75" />和对应标准偏差σ<sub>t</sub>,并且将平均最近邻、次最近邻的定义间距<img file="FDA0000403731350000013.GIF" wi="37" he="71" />和对应标准偏差σ<sub>t</sub>随试样位置变化绘成曲线图,通过曲线图直观反映第二相均匀性情况及随试样位置的变化。
地址 110015 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号