发明名称 波束成形方法以及超声波诊断装置
摘要 波束成形方法包括:主波束生成步骤(S21),通过将被检体的第一区域作为焦点对从多个接收元件获得的接收回波信号进行整相加法运算,生成主波束信号;副波束生成步骤(S22),根据接收回波信号生成副波束信号,该副波束信号对于从第一区域反射来的超声波信号的灵敏度比主波束信号的要低;以及窄波束生成步骤(S23),计算基于主波束信号以及副波束信号确定的系数、即用于使主波束信号窄角度化的系数,并将系数和主波束信号相乘,从而生成窄波束信号,在副波束生成步骤(S22)中,使用差信号来生成副波束信号,该差信号是指,将与第一区域不同的被检体的两个区域即互不相同的两个区域分别作为焦点来对接收回波信号进行整相加法运算而生成的两个波束信号之差。
申请公布号 CN103547220A 申请公布日期 2014.01.29
申请号 CN201380001434.7 申请日期 2013.04.26
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 金森丈郎;渡边泰仁;津岛峰生
分类号 A61B8/00(2006.01)I 主分类号 A61B8/00(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 王成坤;胡建新
主权项 1.一种波束成形方法,根据由多个接收元件接收从被检体反射来的超声波信号并生成的回波信号,生成波束信号,该波束成形方法包括:主波束生成步骤,通过以上述被检体的第一区域为焦点对从上述多个接收元件获得的接收回波信号进行整相加法运算,来生成主波束信号;副波束生成步骤,根据上述接收回波信号,生成副波束信号,该副波束信号对于从上述第一区域反射来的超声波信号的灵敏度比上述主波束信号对于从上述第一区域反射来的超声波信号的灵敏度低;以及窄波束生成步骤,计算基于上述主波束信号以及上述副波束信号确定的系数、即用于将上述主波束信号窄角度化的系数,并将上述系数和上述主波束信号相乘,从而生成窄波束信号,在上述副波束生成步骤中,使用差信号生成上述副波束信号,该差信号是指,将与上述第一区域不同的上述被检体的两个区域并且是互不相同的两个区域分别作为焦点对上述接收回波信号进行整相加法运算而生成的两个波束信号之差。
地址 日本大阪府