发明名称 相对于彼此调整记录基片和至少一个阵列的方法和打印装置
摘要 一种相对于彼此调整记录基片和至少一个阵列的方法,所述阵列是具有用于安装该阵列的携载结构的打印装置的一部分。该阵列具有呈基本上平行于一个方向的行而布置的用以在记录基片上形成第二测试标记的喷嘴,基片上预打印有第一测试标记。该阵列和记录基片处于可获得相对位置。该方法包括:形成具有第一和第二测试标记的测试图案并检测第一和第二测试标记的位置;基于所述检测的位置针对多个可获得相对位置确定多个偏差因子,其中所述偏差因子中的每一个是一种独特的可获得相对位置的属性、并指示出介于毗邻着的第一和第二标记之间的距离相对于名义距离偏离的量;并选择所述多个可获得相对位置之中满足适合于所述多个偏差因子的一种选择准则的可获得相对位置。
申请公布号 CN102105307B 申请公布日期 2014.01.29
申请号 CN200980128976.4 申请日期 2009.05.25
申请人 奥西-技术有限公司;穆特拉克斯公司 发明人 H·维恩斯特拉
分类号 B41J2/21(2006.01)I 主分类号 B41J2/21(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 彭武
主权项 一种用于相对于彼此调整一种记录基片(26)和至少一个阵列(12)的方法,记录基片(26)和所述至少一个阵列(12)具有朝向彼此的相对位置,所述阵列是具有用于安装所述阵列的携载结构(10)的打印装置的一部分、并具有呈基本上平行于第一方向(X)的行而布置的用以在记录基片(26)上形成第二测试标记(22)的喷嘴(18),其中记录基片(26)包括一种包含第一测试标记(24)的预打印图案,该方法包括: a)通过在记录基片(26)上应用第二测试标记(22)而形成测试图案(S4),每个第一测试标记和第二测试标记具有在基片上的位置, b)检测(S6)第一测试标记和第二测试标记的位置, 其特征在于,该方法还包括: c)基于所述检测的位置来针对多个可获得相对位置(P1,P3)确定(S10)多个偏差因子(F1,F3),其中所述多个可获得相对位置是阵列和记录基片上的预打印图案至少部分地在彼此的侧面的位置,由此定义交叠的程度,所述多个可获得相对位置沿第一方向(X)的轴线落在交叠区域外面的喷嘴的数量不同,以及所述偏差因子(F1,F3)中的每个偏差因子是一种独特的可获得相对位置(P1,P3)的属性、并指示出介于毗邻的第一和第二标记之间在第一方向(X)的轴线上的投影距离相对于名义距离偏离的量,并且选择所述多个可获得相对位置(P1,P3)之中满足适用于所述多个偏差因子(F1,F3)的一种选择准则的可获得相对位置。
地址 荷兰芬洛