发明名称 |
用于确定制造表面相对于参考表面的位置参数的方法 |
摘要 |
由计算机装置执行的用于确定定义所制造的可推导表面相对于参考表面的相对位置的位置参数的方法,该方法包括:一个提供标称表面的步骤(S1)、一个提供测量表面的步骤(S2)、一个提供变形表面的步骤(S3)、一个确定合成表面的步骤(S4)以及一个参数确定步骤(S5),在该参数确定步骤过程中,通过最小化该标称表面和该合成表面之间的差值来确定这些位置参数以及定义该变形表面的至少一个变形参数。 |
申请公布号 |
CN103517784A |
申请公布日期 |
2014.01.15 |
申请号 |
CN201280022607.9 |
申请日期 |
2012.05.11 |
申请人 |
依视路国际集团(光学总公司) |
发明人 |
金-皮埃尔·乔沃;帕斯卡尔·阿尔利奥内;丹尼尔·斯泰盖尔曼 |
分类号 |
B24B13/00(2006.01)I;B24B49/00(2012.01)I;B24B51/00(2006.01)I;G02B27/00(2006.01)I;G02C7/02(2006.01)I;G05B19/4097(2006.01)I;G06Q50/00(2012.01)I |
主分类号 |
B24B13/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 |
代理人 |
张恒康 |
主权项 |
由计算机装置执行的用于确定定义所制造的可推导表面相对于参考表面的相对位置的位置参数的方法,该方法包括:‑一个提供标称表面的步骤(S1),在该步骤过程中,提供一个标称表面,该标称表面用一个标称参考系表示并且该标称表面与有待用定义该标称表面相对于该参考表面的相对位置的位置参数的标称值制造的理论上的可推导表面相对应,‑一个提供测量表面的步骤(S2),在该步骤过程中,提供一个用该标称参考系表示的所制造的可推导表面的测量表面,‑一个提供变形表面的步骤(S3),在该步骤过程中,提供由至少一个变形可调参数定义的至少一个变形表面,‑一个合成表面确定步骤(S4),在该步骤过程中,通过添加该测量表面以及该变形表面来确定一个合成表面,‑一个参数确定步骤(S5),在该步骤过程中,通过最小化该标称表面和该合成表面之间的差值来确定这些位置参数以及至少一个变形参数。 |
地址 |
法国莎朗通 |