发明名称 离子束检查装置、离子束检查方法、半导体制造装置及离子源装置
摘要
申请公布号 TWI421900 申请公布日期 2014.01.01
申请号 TW097112858 申请日期 2008.04.09
申请人 精工电子有限公司 日本 发明人 伊藤雅彰
分类号 H01J37/317;H01J37/08 主分类号 H01J37/317
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址 日本
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