用于检测透明容器中材料分布缺陷的方法及装置

摘要

本发明涉及一种用于检测透明容器(2)上薄型缺陷的探测方法，该透明容器具有中心轴(A)，针对分布在探测区域上的一连串探测点，其中这些探测点一方面取决于所述容器沿中心轴(A)所取的高度而另一方面取决于所述容器的周边而覆置，该方法包括如下步骤：发出光束(9)以便在光传感器(16)上提取来自容器壁的内表面(6)和外表面(5)的反射光束(12,11)，在每个探测点处根据外表面与内表面的反射光束之间在与光传感器(16)齐平处的间隔来测量壁(3)的厚度，通过分析厚度测量值在探测区域上的分布来处理所述厚度测量值以从中提取几何特征，并将这些几何特征与参考值进行比较以确定所述容器是否具有材料分布缺陷。

主权项

一种用于检测透明容器(2)中材料分布缺陷的探测处理，该透明容器具有中心轴(A)以及在外表面(5)和内表面(6)之间限定的壁(3)，针对分布在探测区域(7)上的一连串探测点(hi)，其中这些探测点(hi)一方面取决于所述容器沿所述中心轴(A)而确定的高度而另一方面取决于所述容器的周边而覆置，所述处理包括：‑循这样的角度向所述容器的所述壁发出至少一条光束(9)，使得部分光束(11)被所述壁的外表面(5)反射而另一部分光束(12)折射入所述壁中再被所述壁的内表面(6)反射，‑在光传感器(16)上提取来自所述内表面(6)和外表面(5)的反射光束(12,11)，‑在每个探测点(hi)处根据所述外表面与所述内表面的反射光束之间在与所述光传感器(16)齐平处的间隔来测量所述壁(3)的厚度，其特征在于该处理包括：‑通过分析厚度测量值在所述探测区域(7)上的分布来处理所述厚度测量值以从中提取几何特征，并将这些几何特征与参考值进行比较以确定所述容器是否具有材料分布缺陷。