发明名称 经封装积体电路以及用以测试装置的方法及设备
摘要 用于测试装置的系统与技术,在该装置内部具有第一与第二互连晶片,该系统与技术包含:于该装置内部在该等第一晶片与第二晶片之间内部讯号所行进的通讯途径中选择地点;以及将测试探针连接至该地点。
申请公布号 TWI420121 申请公布日期 2013.12.21
申请号 TW096146696 申请日期 2007.12.07
申请人 泰瑞达公司 美国 发明人 徐放
分类号 G01R31/28;G01R1/067 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项
地址 美国