发明名称 头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机
摘要 本实用新型涉及头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机,包括机架,机架内设置有多普勒激光发射仪和工控机,机架上的一侧设置有多普勒激光控制器,另一侧设置有硬盘头堆测试主体机构,硬盘头堆测试主体机构由激光传感器测头定位机构、硬盘内读写驱动架夹持机构以及测试集成支撑框架机构组成,激光传感器测头定位机构和硬盘内读写驱动架夹持机构均安装于测试集成支撑框架机构上。本实用新型实现了硬盘读写驱动器,头堆组件级别微驱驱动强度测试,其测试响应为单个驱动头像纳米级别响应值,且还能实现分头像测试,可辨别单个读写头像动力学特性,在微驱失效返修时,辨别单个失效读写头像,避免了正常头像被误杀,节省物料成本。
申请公布号 CN203325447U 申请公布日期 2013.12.04
申请号 CN201320229976.7 申请日期 2013.04.28
申请人 苏州长城开发科技有限公司 发明人 陆锋;朱灿强;何彩英;王剑;龚旭龙;刘辉;贾佳;何川
分类号 G11B5/455(2006.01)I 主分类号 G11B5/455(2006.01)I
代理机构 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 代理人 王玉国;陈忠辉
主权项 头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机,其特征在于:包括机架,所述机架内设置有多普勒激光发射仪和工控机,所述机架上的一侧设置有多普勒激光控制器,另一侧设置有硬盘头堆测试主体机构,所述硬盘头堆测试主体机构由激光传感器测头定位机构、硬盘内读写驱动架夹持机构以及测试集成支撑框架机构组成,所述激光传感器测头定位机构和硬盘内读写驱动架夹持机构均安装于测试集成支撑框架机构上。2.根据权利要求1所述的头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机,其特征在于:所述硬盘头堆测试主体机构通过隔振圈放置在机架上。3.根据权利要求1所述的头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机,其特征在于:所述激光传感器测头定位机构包括Z轴框架和X轴滑动平台,所述Z轴框架通过连接件连接X轴滑块安装于X轴滑动平台,所述X轴滑动平台与X轴步进电机驱动连接,所述Z轴框架上设置有Z轴直线滑轨,Z轴直线滑轨上设置有Z轴滑台,Z轴滑台与Z轴框架顶端上的Z轴步进电机驱动连接,Z轴滑台通过联轴器安装有多普勒激光探测头,Z轴滑台上还安装有连接板,连接板上通过电荷耦合图像传感器夹持工装夹具安装有电荷耦合图像传感器,LED光源固定在电荷耦合图像传感器后端, 用于提供满足图像传感器要求的光源。4.根据权利要求3所述的头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机,其特征在于:所述X轴滑动平台上设置有用于检测Z轴框架的位置传感器。5.根据权利要求1所述的头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机,其特征在于:所述硬盘内读写驱动架夹持机构包括支撑平台,在支撑平台一侧安装有支撑框架,在支撑平台上和临近支撑框架的同一侧的两端分别设置有旋转气缸和分割梳齿直线气缸,旋转气缸与缆压杆驱动连接,分割梳齿直线气缸与分割梳齿滑块驱动连接,分割梳齿滑块上设置有分割梳齿,在支撑框架的下方设置有侧面旋转气缸,侧面旋转气缸与定位固定销驱动连接,定位固定销穿过支撑框架的台面,支撑平台的另一侧固定有气缸支撑架,气缸支撑架上设置有直线气缸,直线气缸与轴承压头驱动连接,所述支撑框架上设置有硬盘内读写驱动架夹持工装夹具,所述直线气缸、侧面旋转气缸、旋转气缸和分割梳齿直线气缸均与硬盘内读写驱动架夹持工装夹具相配合。6.根据权利要求5所述的头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机,其特征在于:所述直线气缸上设置有传感器装置,所述分割梳齿直线气缸上设置有感应气缸开关装置。7.根据权利要求1所述的头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机,其特征在于:所述测试集成支撑框架机构是由电路控制器集成、激光传感器测头定位固定台、硬盘内读写驱动架夹持定位固定台、以及控制按钮集成装置组成。8.根据权利要求5所述的头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机,其特征在于:所述硬盘内读写驱动架夹持工装夹具包括工装托板,工装托板上设置有产品安置工装板,产品安置工装板上设置有软电缆接头槽。9.根据权利要求8所述的头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机,其特征在于:所述工装托板上还设置有软电缆定位销。10.根据权利要求8所述的头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机,其特征在于:所述工装托板上设置有轴承定位销。
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