发明名称 微影装置及图案化元件
摘要 本发明揭示一种微影装置,该微影装置包含:;一照明系统,其经组态以调节一辐射光束;一支撑件,其经建构以支撑一图案化元件,该图案化元件能够在该辐射光束之横截面中向该辐射光束赋予一图案以形成一经图案化辐射光束;一基板台,其经建构以固持一基板;及一投影系统,其经组态以将该经图案化辐射光束投影至该基板之一目标部分上。;该微影装置进一步包含一投影转移量测配置,该投影转移量测配置用以量测该投影系统之一光学投影转移资讯。该投影转移量测配置包含:一光学元件,其用以在一扫描移动期间将一量测光束引导至该投影系统中;一侦测器,其用以在该扫描移动期间侦测已传递通过该投影系统之该量测光束;及一量测处理元件,其用以自该经侦测量测光束判定该光学投影转移资讯。该光学元件及该侦测器配置于该投影系统之一上游末端处。
申请公布号 TWI417679 申请公布日期 2013.12.01
申请号 TW099134265 申请日期 2010.10.07
申请人 ASML荷兰公司 荷兰 发明人 巴特乐 汉司;陆普斯塔 爱瑞克 罗依洛夫
分类号 G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 荷兰