| 发明名称 | 检测装置、检测系统以及检测装置的制造方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了检测装置、检测系统以及检测装置的制造方法。该检测装置包含多个转换元件，每个转换元件包含：第一电极，其设置在基板上；半导体层，其设置在所述第一电极上；杂质半导体层，其设置在所述半导体层上，并且至少包含第一区域和第二区域；以及第二电极，其设置在所述杂质半导体层的所述第一区域上并且与所述杂质半导体层接触。设置在所述杂质半导体层不与所述第二电极接触的位置处的所述第二区域中的薄层电阻小于所述第一区域中的薄层电阻。 | ||
| 申请公布号 | CN103390626A | 申请公布日期 | 2013.11.13 |
| 申请号 | CN201310164953.7 | 申请日期 | 2013.05.08 |
| 申请人 | 佳能株式会社 | 发明人 | 望月千织;渡边实;横山启吾;大藤将人;川锅润;藤吉健太郎;和山弘 |
| 分类号 | H01L27/146(2006.01)I | 主分类号 | H01L27/146(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 康建忠 |
| 主权项 | 一种检测装置，所述检测装置包含转换元件，各转换元件包含：第一电极，其设置在基板上；半导体层，其设置在所述第一电极上；杂质半导体层，其设置在所述半导体层上并且至少包含第一区域和第二区域；以及第二电极，其与所述杂质半导体层接触地设置在所述杂质半导体层的所述第一区域上，其中，设置在所述杂质半导体层不与所述第二电极接触的位置处的所述第二区域中的薄层电阻小于所述第一区域中的薄层电阻。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||