发明名称 偏光膜卷材的品质判断系统及其方法
摘要 本发明提供一种偏光膜卷材的品质判断系统及其方法,该系统以及方法可以减低追加检测所需要的费用以及时间,可以自动甄别预想为会出现较高缺陷遗漏率的卷材。本发明的实施例的偏光膜卷材的品质判断系统及其方法,通过使用自动光学检测机的检测结果数据获得对于卷材品质判断重要信息以及将这些重要信息传达到后续工序,由此来履行作为对于不合格卷材的早期预警系统的机能,可以在后续工序中按照卷材品质的不同来构筑不同的工艺。
申请公布号 CN102253054B 申请公布日期 2013.11.13
申请号 CN201110125641.6 申请日期 2011.05.10
申请人 东友精细化工有限公司 发明人 尹永根;朴一雨
分类号 G01N21/892(2006.01)I;G01N21/898(2006.01)I;G02B5/30(2006.01)I 主分类号 G01N21/892(2006.01)I
代理机构 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人 黄志华
主权项 一种偏光膜卷材的品质判断系统,其特征在于,所述品质判断系统包括:存储部,其存储从对偏光膜卷材进行缺陷检测的自动光学检测机得到的检测结果数据;缺陷数据分析部,其根据包含于所述检测结果数据中的缺陷位置信息算出检测对象卷材的各单位区域的缺陷产生密度,并根据所述缺陷产生密度变为规定值以上的缺陷密度异常区域数算出所述检测对象卷材的缺陷密度异常指数;以及卷材品质判断部,其在所述检测对象卷材的缺陷密度异常指数变为规定的允许值以上时,将所述检测对象卷材判断为不合格卷材;所述缺陷数据分析部,对于未实施涂层状态的偏光膜卷材以及实施涂层状态的偏光膜卷材,分别进行所述每个单位区域的缺陷产生密度的算出;所述卷材品质判断部,在下述的其中任意一个情况下将偏光膜卷材判断为不合格卷材,即:对于所述未实施涂层状态的偏光膜卷材,其未实施涂层的缺陷密度异常指数在规定的第五允许值以上的情况;以及对于所述实施涂层状态的偏光膜卷材,其实施涂层的缺陷密度异常指数在规定的第六允许值以上的情况;所述缺陷数据分析部,对所述未实施涂层的缺陷密度异常指数赋予了第一加权值的值,和对所述实施涂层的缺陷密度异常指数赋予了第二加权值的值,进行相加而算出密度异常加和指数;所述卷材品质判断部,在所述算出的密度异常加和指数在规定的第七允许值以上时,将所述偏光膜卷材判断为不合格卷材。
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