发明名称 用于检测物品内瑕疵的X射线反向散射系统和方法
摘要 本发明提供一种用于检测物品内瑕疵的方法。该方法包含:沿至少一个维度将能量波导向至物品处,其中能量波的一部分从物品反射回来;沿至少一个维度检测从物品反射的能量波,并且记录所检测的反射能量波的强度;以及根据所检测的反射能量波形成物品的一维图像。
申请公布号 CN103364421A 申请公布日期 2013.10.23
申请号 CN201310110419.8 申请日期 2013.04.01
申请人 波音公司 发明人 W·T·爱德华兹;G·E·乔治森;J·E·恩格尔
分类号 G01N23/20(2006.01)I 主分类号 G01N23/20(2006.01)I
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人 赵蓉民
主权项 一种用于检测物品内瑕疵的方法,其包括:沿至少一个维度将能量波导向至所述物品处,其中所述能量波的一部分从所述物品被反射回来;沿至少一个维度检测从所述物品反射的能量波,并且记录所检测的反射能量波的强度;以及根据所检测的反射能量波形成所述物品的一维图像。
地址 美国伊利诺伊州
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