发明名称 | 用于检测物品内瑕疵的X射线反向散射系统和方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种用于检测物品内瑕疵的方法。该方法包含:沿至少一个维度将能量波导向至物品处,其中能量波的一部分从物品反射回来;沿至少一个维度检测从物品反射的能量波,并且记录所检测的反射能量波的强度;以及根据所检测的反射能量波形成物品的一维图像。 | ||
申请公布号 | CN103364421A | 申请公布日期 | 2013.10.23 |
申请号 | CN201310110419.8 | 申请日期 | 2013.04.01 |
申请人 | 波音公司 | 发明人 | W·T·爱德华兹;G·E·乔治森;J·E·恩格尔 |
分类号 | G01N23/20(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/20(2006.01)I |
代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人 | 赵蓉民 |
主权项 | 一种用于检测物品内瑕疵的方法,其包括:沿至少一个维度将能量波导向至所述物品处,其中所述能量波的一部分从所述物品被反射回来;沿至少一个维度检测从所述物品反射的能量波,并且记录所检测的反射能量波的强度;以及根据所检测的反射能量波形成所述物品的一维图像。 | ||
地址 | 美国伊利诺伊州 |