发明名称 |
电子设备功耗的测试方法 |
摘要 |
本发明提供一种电子设备功耗的测试方法,所述电子设备包括一系统供电电源和一电压转换芯片,所述电压转换芯片将所述系统供电电源转换为至少一路DCDC输出电源和/或至少一路LDO输出电源,所述测试方法是在DCDC或LDO输出供电回路上外加一个外部电源,该外部电源的电压高于所述DCDC或LDO输出电源的电压,从而使此时该DCDC或LDO输出供电回路由所述外部电源提供,则所述外部电源加入的前、后所述系统供电电源端的耗电差值,即为该DCDC、LDO输出供电回路在系统供电电源端的耗电,而所述外部电源供电回路上的耗电,即为该DCDC或LDO输出供电回路上的耗电。本发明方法实际操作简单方便,且可测试结果较精确。 |
申请公布号 |
CN103323712A |
申请公布日期 |
2013.09.25 |
申请号 |
CN201310231777.4 |
申请日期 |
2013.06.09 |
申请人 |
福州瑞芯微电子有限公司 |
发明人 |
谢修鑫;许盛飞;宋秀杰 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 |
代理人 |
宋连梅 |
主权项 |
一种电子设备功耗的测试方法,所述电子设备包括一系统供电电源和一电压转换芯片,所述电压转换芯片将所述系统供电电源转换为至少一路DCDC输出电源和/或至少一路LDO输出电源,其特征在于:所述测试方法是在DCDC输出供电回路或LDO输出供电回路上外加一个外部电源,该外部电源的电压高于所述DCDC输出电源的电压或LDO输出电源的电压,从而使该DCDC输出电源或LDO输出电源阻断,此时该DCDC输出供电回路或LDO输出供电回路由所述外部电源提供,形成外部电源供电回路;则所述外部电源加入的前、后所述系统供电电源端的耗电差值,即为该DCDC、LDO输出供电回路在系统供电电源端的耗电,而所述外部电源供电回路上的耗电,即为该DCDC输出供电回路或LDO输出供电回路上的耗电。 |
地址 |
350000 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼 |