发明名称 |
半导体结构及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种半导体结构及其制备方法,该半导体结构包括一第一导电型的衬底、一第二导电型的第一阱区、一第二导电型的掺杂区、一场氧化物以及一第二导电型的第二阱区。第一阱区形成于衬底中。掺杂区形成于第一阱区中,掺杂区具有一第一杂质净浓度。场氧化物形成于第一阱区的表面区域。第二阱区位于场氧化物下方,且连接于掺杂区的一侧,其中第二阱区具有一第二杂质净浓度,第二杂质净浓度小于第一杂质净浓度。 |
申请公布号 |
CN103311277A |
申请公布日期 |
2013.09.18 |
申请号 |
CN201210058075.6 |
申请日期 |
2012.03.07 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 |
发明人 |
徐志嘉;金宥宪;黄胤富 |
分类号 |
H01L29/36(2006.01)I;H01L21/22(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/36(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
宋焰琴 |
主权项 |
一种半导体结构,包括:一第一导电型的衬底;一第二导电型的第一阱区,形成于该衬底中;一第二导电型的掺杂区,形成于该第一阱区中,该掺杂区具有一第一杂质净浓度;一场氧化物,形成于该第一阱区的表面区域;以及一第二导电型的第二阱区,位于该场氧化物下方,且连接于该掺杂区的一侧,其中该第二阱区具有一第二杂质净浓度,该第二杂质净浓度小于该第一杂质净浓度。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区力行路16号 |