发明名称 一种基于ZnO薄膜钝化半导体激光器腔面的方法
摘要 一种基于ZnO薄膜钝化半导体激光器腔面的方法,属于半导体光电子器件工艺技术领域。该领域已知技术难以大幅度提高输出功率,同时使器件的可靠性保持在较高的水平。本发明之一种基于ZnO薄膜钝化半导体激光器腔面的方法,可有效提高输出功率,提升半导体激光器的可靠性。该钝化方法是在磁控溅射系统中,采用氩、氢混合等离子体去除激光器芯片解理面上的表面态,随后原位溅射一层ZnO薄膜作为钝化阻挡层,形成钝化膜后按照常规工艺镀制腔面增透膜和高反膜。该技术方案可应用于各类GaAs基半导体激光器制造。
申请公布号 CN103311801A 申请公布日期 2013.09.18
申请号 CN201310260512.7 申请日期 2013.06.27
申请人 长春理工大学 发明人 薄报学;周路;王云华;许留洋;高欣;乔忠良
分类号 H01S5/028(2006.01)I;C23C14/08(2006.01)I 主分类号 H01S5/028(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种基于ZnO薄膜钝化半导体激光器腔面的方法,该方法包括在磁控溅射系统内采用氩、氢混合等离子体分别对激光器前后腔面进行清洗,清洗后原位溅射ZnO钝化薄层,最后按常规工艺镀制前腔面增透膜和后腔面高反膜。
地址 130022 吉林省长春市朝阳区卫星路7089号