发明名称 |
一种基于ZnO薄膜钝化半导体激光器腔面的方法 |
摘要 |
一种基于ZnO薄膜钝化半导体激光器腔面的方法,属于半导体光电子器件工艺技术领域。该领域已知技术难以大幅度提高输出功率,同时使器件的可靠性保持在较高的水平。本发明之一种基于ZnO薄膜钝化半导体激光器腔面的方法,可有效提高输出功率,提升半导体激光器的可靠性。该钝化方法是在磁控溅射系统中,采用氩、氢混合等离子体去除激光器芯片解理面上的表面态,随后原位溅射一层ZnO薄膜作为钝化阻挡层,形成钝化膜后按照常规工艺镀制腔面增透膜和高反膜。该技术方案可应用于各类GaAs基半导体激光器制造。 |
申请公布号 |
CN103311801A |
申请公布日期 |
2013.09.18 |
申请号 |
CN201310260512.7 |
申请日期 |
2013.06.27 |
申请人 |
长春理工大学 |
发明人 |
薄报学;周路;王云华;许留洋;高欣;乔忠良 |
分类号 |
H01S5/028(2006.01)I;C23C14/08(2006.01)I |
主分类号 |
H01S5/028(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种基于ZnO薄膜钝化半导体激光器腔面的方法,该方法包括在磁控溅射系统内采用氩、氢混合等离子体分别对激光器前后腔面进行清洗,清洗后原位溅射ZnO钝化薄层,最后按常规工艺镀制前腔面增透膜和后腔面高反膜。 |
地址 |
130022 吉林省长春市朝阳区卫星路7089号 |