| 发明名称 | 可调波片式偏振干涉成像光谱仪 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种可调波片式偏振干涉成像光谱仪，包括第一检偏器、延迟量调节装置、第二检偏器以及光学成像探测系统；第一检偏器、延迟量调节装置以及第二检偏器依次设置在同一光轴上；光学成像探测系统与第二检偏器设置在同一光路上。本发明提供了一种结构简单且体积重量大幅减小的可调波片式偏振干涉成像光谱仪。 | ||
| 申请公布号 | CN103267573A | 申请公布日期 | 2013.08.28 |
| 申请号 | CN201310178591.7 | 申请日期 | 2013.05.14 |
| 申请人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明人 | 马臻;李英才;李旭阳 |
| 分类号 | G01J3/45(2006.01)I | 主分类号 | G01J3/45(2006.01)I |
| 代理机构 | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人 | 姚敏杰 |
| 主权项 | 一种可调波片式偏振干涉成像光谱仪，其特征在于：所述可调波片式偏振干涉成像光谱仪包括第一检偏器、延迟量调节装置、第二检偏器以及光学成像探测系统；所述第一检偏器、延迟量调节装置以及第二检偏器依次设置在同一光轴上；所述光学成像探测系统与第二检偏器设置在同一光路上。 | ||
| 地址 | 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号 | ||