发明名称 光学驱动装置及倾斜检测方法
摘要 本发明披露了一种光学驱动装置及倾斜检测方法,该光学驱动装置用于通过物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中的必要位置而形成标记来执行信息记录或记录信息的再现,该光学驱动装置包括:位置控制单元,被配置为经由物镜将第二光聚焦在其中形成有光学记录介质的位置引导元件的反射膜上,并基于聚焦在反射膜上的第二光的反射光使第二光的光斑位置能够跟随位置引导元件以控制物镜的位置。该光学驱动装置进一步包括第一聚焦单元、第一光传感部和表面反射光偏移量检测单元。
申请公布号 CN102044274B 申请公布日期 2013.08.21
申请号 CN201010517399.2 申请日期 2010.10.15
申请人 索尼公司 发明人 齐藤公博;久保毅;田部典宏
分类号 G11B7/135(2012.01)I;G11B7/09(2006.01)I 主分类号 G11B7/135(2012.01)I
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人 余刚;吴孟秋
主权项 一种光学驱动装置,用于通过物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中的必要位置而形成标记来执行信息记录或记录信息的再现,所述光学驱动装置包括:位置控制单元,被配置为经由所述物镜将第二光聚焦在其中形成有所述光学记录介质的位置引导元件的反射膜上,并基于聚焦在所述反射膜上的所述第二光的反射光使所述第二光的光斑位置能够跟随所述位置引导元件以控制所述物镜的位置;第一聚焦单元,被配置为聚焦通过将所述第二光照射到所述光学记录介质经由所述物镜而入射的所述第二光的来自所述光学记录介质的反射光;第一光传感部,被设置为使包含在由所述第一聚焦单元聚焦的所述第二光的反射光中的来自所述光学记录介质的表面的反射光的光斑形成在所述第一光传感部的光传感表面上;表面反射光偏移量检测单元,被配置为基于由所述第一光传感部产生的光传感信号来检测来自所述表面的所述反射光的所述光斑与所述光传感表面中的基准位置的偏移量;以及分光元件,被配置为光谱地分割经由所述物镜从所述光学记录介质入射的所述第二光的反射光,所述分光元件包括第一全息元件,并通过衍射来光谱地分割经由所述物镜入射的所述第二光的反射光,所述第一聚焦单元被设置在由作为所述第一全息元件的所述分光元件光谱地分割的0阶光和1阶光都聚焦的位置,以及所述第一光传感部被设置在包含在从所述分光元件输出的1阶光侧中的来自所述表面的反射光的由所述第一聚焦单元形成的光斑形成在所述光传感表面上的位置处。
地址 日本东京
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