发明名称 |
成形体、其制备方法、电子装置用部件及电子装置 |
摘要 |
本发明提供成形体、所述成形体的制备方法、含有所述成形体的电子装置用部件、具备所述部件的电子装置,所述成形体为具有阻气层的成形体,其中,所述阻气层具有由至少含有碳原子、氧原子和硅原子的材料构成的表层部,在所述表层部中,相对于碳原子、氧原子、氮原子和硅原子的总存在量,碳原子的存在比例为超过0%且70%以下,氧原子的存在比例为10%以上且70%以下,氮原子的存在比例为0%以上且35%以下,硅原子的存在比例为20%以上且55%以下。本发明的成形体具有优异的阻气性、透明性和耐弯折性。根据本发明的成形体的制备方法,可通过一道工序安全、简便地制备上述成形体。本发明的电子装置用部件可适用于显示器、太阳能电池等电子装置。 |
申请公布号 |
CN103249767A |
申请公布日期 |
2013.08.14 |
申请号 |
CN201180050643.1 |
申请日期 |
2011.07.27 |
申请人 |
琳得科株式会社 |
发明人 |
岩屋涉;近藤健 |
分类号 |
C08J7/00(2006.01)I;B32B27/00(2006.01)I;B32B27/30(2006.01)I;C23C14/48(2006.01)I |
主分类号 |
C08J7/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
林毅斌;李进 |
主权项 |
成形体,所述成形体为具有阻气层的成形体,其特征在于,所述阻气层具有由至少含有碳原子、氧原子和硅原子的材料构成的表层部,在所述表层部中,相对于碳原子、氧原子、氮原子和硅原子的总存在量,碳原子的存在比例为超过0%且70%以下,氧原子的存在比例为10%以上且70%以下,氮原子的存在比例为0%以上且35%以下,硅原子的存在比例为20%以上且55%以下。 |
地址 |
日本东京都 |