继电器批次产品释放时间一致性控制方法

摘要

本发明涉及继电器批次产品释放时间一致性控制方法。本发明是要解决继电器产品研发过程中缺乏一致性控制方法指导研发人员对可控参数分配合理的容差，进而导致制造过程中批次产品一致性差的问题，而提出了继电器批次产品释放时间一致性控制方法。一、正交试验设计；二、试验数据贡献率分析；三、建立容差分配目标函数；四、确定关键参数及其容差；五、继电器制造过程控制。本发明应用于继电器研发阶段的一致性控制领域。

主权项

1.继电器批次产品释放时间一致性控制方法，其特征在于继电器批次产品释放时间一致性控制方法按以下步骤实现：一、正交试验设计设置继电器有n个可控参数X₁，X₂，...，Xx，采用正交试验法设计试验方案：每个可控参数按照式(1)取三个水平进行表头设计，三个水平分别为中心值m_i及按照公差Δ_i波动的上限值和下限值；二、试验数据贡献率分析计算每个试验方案对应的继电器释放时间y₁，y₂，...，y_n后，对n个试验数据进行统计分析，求出每个可控参数X_i的贡献率ρ_i/％，分为一次项贡献率ρXil/％和二次项贡献率ρXiq/％；三、建立容差分配目标函数将步骤二中每个可控参数X_i的贡献率带入式(2)，得到描述参数容差从Δ_i改变为Δ′_i时对应输出特性一致性程度改变的函数关系，即容差分配目标函数：$\delta =\underset{i=1}{\overset{n}{\Sigma }}({\rho }_{\mathrm{Xil}}{\left(\frac{{\Delta }_i^{\prime }}{{\Delta }_i}\right)}^2+{\rho }_{\mathrm{Xip}}{\left(\frac{{\Delta }_i^{\prime }}{{\Delta }_i}\right)}^4)+{\rho }_e...\left(2\right)$其中，Δ_i表示改变前的容差，Δ′_i表示改变后的容差，ρ_Xil表示因素X_i的一次项贡献率，ρ_Xiq表示因素X_i的二次项贡献率，ρ_e表示误差项贡献率；四、确定关键参数及其容差根据各可控参数贡献率值的大小确定继电器关键参数，并以式(3)的方式确定各参数的容差改进后应达到的制造等级；Δ′_i＝(1-k×ρ_i)Δ_i＝[1-k×(ρ_Xil+ρ_Xiq)]Δ_i   (3)其中，k为容差分配因子，ρ_i为可控参数X_i的贡献率，将k×ρ_i作为容差分配的权重系数；对于确定的一致性指标，通过改变k的取值，使批次产品的一致性提高至目标要求；五、继电器制造过程控制根据步骤四确定的各可控参数容差，明确继电器制造过程中的每个可控参数应满足的精度，保证批次产品释放时间的一致性满足目标要求。