| 摘要 |
W sposobie wynalazku, realizowanym z wykorzystaniem dwuwiazkowego ukladu optycznego interferometru z ukladem powierzchni odbijajacych, laserowa wiazke swiatla (2) rozdziela sie na dwie wiazki, a po odbiciu od ukladu powierzchni odbijajacych obie wiazki laczy sie ponownie we wspólnym kierunku propagacji tak, ze interferuja ze soba tworzac obraz prazków interferencyjnych padajacy na fotodetektor (10) czuly na zmiane okresu prazków, przy czym ukladzie optycznym pomiedzy laserem (1), a fotodetektorem (10) doprowadza sie do róznej o liczbe nieparzysta ilosci odbic obu rozdzielonych wiazek od powierzchni odbijajacych, a odchylenie katowe wyznacza sie na podstawie zarejestrowanej przez fotodetektor (10) zmiany okresu prazków interferujacych ze soba wiazek. W interferometrze, wyposazonym w dwuwiazkowy uklad optyczny z ukladem powierzchni odbijajacych, pomiedzy laserem (1), a fotodetektorem (10) ilosc powierzchni odbijajacych znajdujacych sie na drodze pierwszej wiazki (4) jest rózna o liczbe nieparzysta od ilosci powierzchni odbijajacych znajdujacych sie na drodze drugiej wiazki (5). Rozwiazanie moze byc wykorzystane do pomiaru mikro-odchylen powierzchni zwierciadlanej od której odbija sie analizowana wiazka oraz do stabilizacji kierunku propagacji wiazki.
|
