发明名称 测试装置、测试方法以及记录媒体
摘要 本发明提供一种测试装置,用于测试被测试元件,其包括:周期产生器,产生速率信号,该速率信号决定被测试元件之动作周期所对应的测试周期;相位比较部,输入被测试元件所产生的被测试元件之动作时脉信号,并检测与以速率信号作为基准的动作时脉信号的相位差;测试信号产生部,生成应供给至被测试元件的测试信号,该测试信号与速率信号同步;延迟部,响应相位差而使测试信号延迟,且使该测试信号与动作时脉信号大致同步;以及测试信号供给部,将延迟后的测试信号供给至被测试元件。
申请公布号 TWI402522 申请公布日期 2013.07.21
申请号 TW095149437 申请日期 2006.12.28
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 山田达也;土井优;佐藤新哉
分类号 G01R31/3183;G01R31/28 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本