发明名称 用于中子共振透射谱测温数据处理分析的系统和方法
摘要 一种用于中子共振透射谱测温数据处理分析的系统,该系统包括拟合分析模块、面积法分析求解模块、优化厚度求解模块、温度灵敏度与误差数值模拟模块、以及扩展功能模块。应用该系统可对实验中子共振透射谱数据进行多种方法的处理分析获得样品温度等关键参数值,也可对共振测温实验进行数值模拟,以优化实验方案。本发明还公开了一种用于中子共振透射谱测温数据处理分析的方法。使用本发明系统的不同功能模块,可对实验中子共振透射谱数据进行多种方法的处理分析,获得样品温度等关键参数值,也可对共振测温实验进行数值模拟,以优化实验方案。
申请公布号 CN102466527B 申请公布日期 2013.07.17
申请号 CN201010533348.9 申请日期 2010.11.05
申请人 同济大学 发明人 顾牡;方弘;刘波;刘小林;黄世明;倪晨
分类号 G01K11/30(2006.01)I 主分类号 G01K11/30(2006.01)I
代理机构 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人 吴林松
主权项 一种用于中子共振透射谱测温数据处理分析的系统,其特征在于,该系统包括: 拟合分析模块,用于基于各种共振截面模型、各种晶体模型以及实验条件描述的中子共振透射谱数据的最小二乘法拟合; 面积法分析求解模块,用于构建中子共振透射谱的时间尺度下的面积函数,利用该面积函数对样品自遮蔽系数进行定标,对样品温度进行求解; 优化厚度求解模块,用于对应于温度误差最小的样品最佳厚度的求解; 温度灵敏度与误差数值模拟模块,用于对共振位的温度误差及不同能量处的温度灵敏度进行求解。
地址 200092 上海市杨浦区四平路1239号