发明名称 Diode design to reduce the effects of radiation damage
摘要
申请公布号 EP1798575(B1) 申请公布日期 2013.07.17
申请号 EP20060126113 申请日期 2006.12.14
申请人 GE INSPECTION TECHNOLOGIES, LP 发明人 ZELAKIEWICZ, SCOTT STEPHEN;BOGDANOVICH, SNEZANA;COUTURE, AARON JUDY;ALBAGLI, DOUGLAS;HENNESSY, WILLIAM ANDREW
分类号 G01T1/20;G01T1/29 主分类号 G01T1/20
代理机构 代理人
主权项
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