存储器芯片测试机

摘要

本实用新型揭露一种存储器芯片测试机，至少一测试盘，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面；多个放置槽，形成于该测试盘的上表面，并于每该放置槽内具有一贯穿该测试盘的测试孔；至少一测试基板，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面，配置于该测试盘下方；多个检测区，形成于该测试基板的上表面，每个检测区相对于每个测试孔；一连接端，形成于该测试基板的一侧边；一测试座，具有至少一测试端，该测试端与该连接端连接；及一检测器，与该测试座电性连接。另用测试盘上的测试孔，使存储器芯片测试机的测试基板能一次对齐所有芯片，在同一时间做检测，其减少制程大量的工时，并增加测试者的收益，亦会对后续产品的进度产生正向效益。

主权项

一种存储器芯片测试机，其特征在于，包括：至少一测试盘，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面；多个放置槽，形成于该测试盘的上表面，并于每该放置槽内具有一贯穿该测试盘的测试孔；至少一测试基板，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面，配置于该测试盘下方；多个检测区，形成于该测试基板的上表面，每个检测区相对于每个测试孔；一连接端，形成于该测试基板的一侧边；一测试座，具有至少一测试端，该测试端与该连接端连接；及一检测器，与该测试座电性连接。