发明名称 |
半导体装置以及半导体装置之制造方法 |
摘要 |
本发明系关于一种可同时提高视窗特性与滞留特性之半导体装置及半导体装置之制造方法。半导体装置系具有于矽基板上从下而上以通道氧化膜、电荷撷取膜、阻隔氧化膜、闸极电极的顺序所形成之层积构造;阻隔氧化膜系具有设置于电荷撷取膜侧之晶质膜与设置于该晶质膜上层之非晶质膜。 |
申请公布号 |
TWI400793 |
申请公布日期 |
2013.07.01 |
申请号 |
TW098142653 |
申请日期 |
2009.12.14 |
申请人 |
东京威力科创股份有限公司 日本 |
发明人 |
秋山浩二;东岛裕和;尾崎彻志;柴田哲弥 |
分类号 |
H01L27/115;H01L29/778;H01L29/792;H01L21/8247 |
主分类号 |
H01L27/115 |
代理机构 |
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代理人 |
林秋琴 台北市大安区敦化南路1段245号8楼;何爱文 台北市大安区敦化南路1段245号8楼 |
主权项 |
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地址 |
日本 |