| 发明名称 | 一种电芯内阻测量方法及电芯匹配方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种电芯内阻测量方法及电芯匹配方法，以在不损伤电池的情况下提高电芯内阻测试以及匹配的精度。该电芯内阻测量方法，包括：使用交流源向待测电芯发送频率不同的多个交流刺激信号；获取与所述多个交流刺激信号一一对应的多个响应信号；根据与每个所述频率对应的交流刺激信号和响应信号，计算所述待测电芯在每个所述频率下的内阻。本发明提高了内阻测试的准确性，并实现了对电芯内阻的精确配组。 | ||
| 申请公布号 | CN103149444A | 申请公布日期 | 2013.06.12 |
| 申请号 | CN201110402062.1 | 申请日期 | 2011.12.06 |
| 申请人 | 联想（北京）有限公司 | 发明人 | 李涛;林威志;赵双城 |
| 分类号 | G01R27/14(2006.01)I | 主分类号 | G01R27/14(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 许静;黄灿 |
| 主权项 | 一种电芯内阻测量方法，其特征在于，包括：使用交流源向待测电芯发送频率不同的多个交流刺激信号；获取与所述多个交流刺激信号一一对应的多个响应信号；根据与每个所述频率对应的交流刺激信号和响应信号，计算所述待测电芯在每个所述频率下的内阻。 | ||
| 地址 | 100085 北京市海淀区上地信息产业基地创业路6号 | ||