发明名称 光学裂纹粒挑选器
摘要 一种光学裂纹粒挑选器,光学地识别原料米粒中混杂的裂纹粒时,不会由于存在胚芽部和/或表面划痕而将没有裂纹的正常颗粒误识别为裂纹粒。裂纹粒识别单元中的识别部可以根据由CCD摄像机中构造的第一CCD传感器接收的通过颗粒的光形成第一米粒图像(具有胚芽部和划痕),并根据由CCD摄像机中构造的第二CCD传感器接收的通过颗粒的光形成第二米粒图像(具有裂纹、胚芽部和划痕),并通过计算两个米粒图像之间光量的差获取裂纹图像并识别裂纹粒。
申请公布号 CN101088633B 申请公布日期 2013.06.12
申请号 CN200710109183.0 申请日期 2007.06.14
申请人 株式会社佐竹 发明人 伊藤隆文;原正纯;惠木正博;土井贵广
分类号 B07C5/342(2006.01)I;G01N21/85(2006.01)I 主分类号 B07C5/342(2006.01)I
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人 曾贤伟
主权项 一种光学裂纹粒挑选器,用于从多个米粒中挑选裂纹粒,包括:传送装置,用于传送按多个行排列的米粒;光学检测装置,包括发光部,用于向从传送装置喷射的米粒的运动轨迹上的光检测位置发射平面光束,和摄像机,用于检测光检测位置上通过每个米粒的光,所述发光部包括第一色光发射器和第二色光发射器,分别用于发射不同波长的第一色光和第二色光,所述第一色光发射器包括一对发光单元,该一对发光单元设置使得其光轴和摄像机光轴之间形成基本相同的内角,或者包括设置在摄像机的光轴上的单个发光单元,所述第二色光发射器包括光轴设置成与摄像机的光轴不一致的单个发光单元,所述摄像机设置来使得在光检测位置上其光轴与米粒运动轨迹基本垂直并具有分别用于接收第一色光和第二色光的第一光接收部和第二光接收部;裂纹粒确定装置,用于通过根据摄像机的第一光接收部和第二光接收部接收的光检测每个米粒中的裂纹来确定米粒中的裂纹粒;以及挑选/分离装置,用于挑选并分离由裂纹粒确定装置确定出的裂纹粒;其中,所述第一色光发射器的一对发光单元的各自的光轴和所述摄像机光轴之间形成的内角不大于70度;所述裂纹粒确定装置分别根据第一光接收部接收的光和第二光接收部接收的光生成每个米粒的第一图像和第二图像,并根据第一图像和第二图像的光量差检测每个米粒中的裂纹。
地址 日本东京都