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发明名称
制造半导体晶圆之方法
摘要
制造一半导体晶圆,系藉由照射一雷射光束到一半导体晶圆的任一面,以适配一聚焦位置到该半导体晶圆的一给定深度位置内,藉以只在该给定深度位置之该半导体晶圆的一特定部位中产生一多光子吸收处理,以形成一除气槽。
申请公布号
TWI398911
申请公布日期
2013.06.11
申请号
TW098114996
申请日期
2009.05.06
申请人
胜高股份有限公司 日本
发明人
栗田一成
分类号
H01L21/268;B23K26/18;B23K101/40
主分类号
H01L21/268
代理机构
代理人
林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址
日本
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