测试装置以及电路模组

摘要

本发明提供一种测试装置，包括：第1测试基板及第2测试基板，其相互对向配置；第1测试电路，其设置在第1测试基板的与第2测试基板对向的面上，对被测试元件进行测试；第2测试电路，其设置在第2测试基板的与第1测试基板对向的面上，对被测试元件进行测试；密闭部，其藉由将第1测试基板及第2测试基板之间的空间进行密闭，而将第1测试电路及第2测试电路密闭在共同的空间中，且在共同的空间中填充冷却材料。