发明名称 Testsystem und Testverfahren für Kabelbäume
摘要 Die Erfindung betrifft ein Testsystem und ein Testverfahren für einen Kabelbaum, gekennzeichnet durch mindestens zwei Testknoten (21, 22, 23, 24, 25) für die Prüfung mindestens einer Verbindung mit einem Stecker (1, 2, 3, 4, 5) in einem zu testenden Kabelbaum (10), wobei mindestens ein Testknoten (21, 22, 23, 24, 25), so ausgebildet ist, dass seine Betriebsenergie und / oder Testsignale über den zu testenden Kabelbaum (10) beziehbar und / oder verteilbar sind und über den zu testenden Kabelbaum (10) an andere Testknoten (21, 22, 23, 24, 25) weiterleitbar sind.
申请公布号 DE102011087152(A1) 申请公布日期 2013.05.29
申请号 DE20111087152 申请日期 2011.11.25
申请人 DIGALOG INDUSTRIE-MIKROELEKTRONIK GMBH 发明人 KOENIG, ROMAN;SCHEDLER, DIETMAR;ENGEL, HARDI;WEBER, MARTIN
分类号 G01R31/02 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
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