发明名称 |
分析装置以及分析方法 |
摘要 |
一种对被检体的状态进行分析的分析装置(1),包括:调温部(1c),通过对被检体进行冷却,来降低被检体的温度;光源(1a),通过使光照射到被检体,对由调温部(1c)冷却了的被检体的至少一部分进行加热;第一温度计测部(1b),计测因光源(1a)的加热而发生的被检体的温度变化;以及分析部(1d),根据被检体的温度变化,来分析被检体的状态。例如,第一温度计测部(1b)具有超声波探头(102a),将超声波脉冲发送给被检体,并接收所述超声波脉冲在所述被检体的反射波,根据超声波探头(102a)所接收的反射波的信号,计测被检体的温度。 |
申请公布号 |
CN103096810A |
申请公布日期 |
2013.05.08 |
申请号 |
CN201280002830.7 |
申请日期 |
2012.07.09 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
楠龟弘一;伊藤达男;堀中博道 |
分类号 |
A61B8/00(2006.01)I;G01J5/00(2006.01)I;G01N29/00(2006.01)I |
主分类号 |
A61B8/00(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
徐殿军;蒋巍 |
主权项 |
一种分析装置,对被检体的状态进行分析,包括:调温部,通过对所述被检体进行冷却,来降低所述被检体的温度;光源,通过使光照射到所述被检体,对由所述调温部冷却了的所述被检体的至少一部分进行加热;第一温度计测部,计测因所述光源的加热而发生的所述被检体的温度变化;以及分析部,根据所述被检体的温度变化,来分析所述被检体的状态。 |
地址 |
日本大阪府 |