发明名称 | 透镜阵列及其透镜边缘检测方法 | ||
摘要 | 课题:本发明提供能够实现透镜面的位置测定所需的劳力、时间及成本的降低,并且能够实现测定精度及批量生产性的提高的透镜阵列及其透镜边缘检测方法。解决方案:为了能只通过从第一透镜面(4)侧的检测作业来进行在测定第一透镜面(4)及第二透镜面(6)的位置时的两透镜面(4、6)的圆周端部的图像的检测,第一透镜面(4)形成为直径比与第一透镜面(4)对应的第二透镜面(6)的直径小,能通过光透过透光性基体材料(2),从第一透镜面(4)侧检测第二透镜面(6)的圆周端部的图像。 | ||
申请公布号 | CN103097921A | 申请公布日期 | 2013.05.08 |
申请号 | CN201180044100.9 | 申请日期 | 2011.09.13 |
申请人 | 恩普乐股份有限公司 | 发明人 | 棚泽昌弘;菅家慎也 |
分类号 | G02B3/00(2006.01)I | 主分类号 | G02B3/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 丁文蕴;李延虎 |
主权项 | 一种透镜阵列,具备:圆形的多个第一透镜面,其形成在板状的透光性基体材料的厚度方向的一方的端面上;以及圆形的多个第二透镜面,其在上述透光性基体材料的厚度方向的另一方的端面,分别形成为与上述多个第一透镜面同轴状,且分别与各第一透镜面对应,该透镜阵列的特征在于,为了能只通过从上述第一透镜面侧的检测作业来进行在测定上述第一透镜面及上述第二透镜面的位置时的两透镜面的圆周端部的图像的检测,上述第一透镜面形成为直径比与上述第一透镜面对应的上述第二透镜面的直径小,能通过光透过上述透光性基体材料,从上述第一透镜面侧检测上述第二透镜面的圆周端部的图像。 | ||
地址 | 日本埼玉县 |