发明名称 一种50nm及以下的硅栅结构的制作方法
摘要 本发明公开了一种50nm及以下的硅栅结构的制作方法,该方法先制作出100nm左右的粗硅栅,然后再经过二次处理形成50nm及以下尺寸的硅栅结构。该方法工艺简单,降低了细光栅制作过程中对光刻工艺的难度要求,解决了器件可重复性制作问题,提高了器件的成品率。
申请公布号 CN102280374B 申请公布日期 2013.05.01
申请号 CN201010199962.6 申请日期 2010.06.08
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 杨成樾;周静涛;张慧慧;刘焕明;申华军
分类号 H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L21/28(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 周国城
主权项 一种50nm及以下的硅栅结构的制作方法,其特征在于,该方法先制作出100nm的粗硅栅,然后再经过二次处理形成50nm及以下尺寸的硅栅结构;其中,所述二次处理是通过高温氧化的方法将部分硅变为氧化硅,实现硅栅条尺寸的缩小,再通过腐蚀去除氧化硅层实现50nm及以下的硅栅结构。
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