发明名称 | 一种50nm及以下的硅栅结构的制作方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种50nm及以下的硅栅结构的制作方法,该方法先制作出100nm左右的粗硅栅,然后再经过二次处理形成50nm及以下尺寸的硅栅结构。该方法工艺简单,降低了细光栅制作过程中对光刻工艺的难度要求,解决了器件可重复性制作问题,提高了器件的成品率。 | ||
申请公布号 | CN102280374B | 申请公布日期 | 2013.05.01 |
申请号 | CN201010199962.6 | 申请日期 | 2010.06.08 |
申请人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明人 | 杨成樾;周静涛;张慧慧;刘焕明;申华军 |
分类号 | H01L21/28(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/28(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 周国城 |
主权项 | 一种50nm及以下的硅栅结构的制作方法,其特征在于,该方法先制作出100nm的粗硅栅,然后再经过二次处理形成50nm及以下尺寸的硅栅结构;其中,所述二次处理是通过高温氧化的方法将部分硅变为氧化硅,实现硅栅条尺寸的缩小,再通过腐蚀去除氧化硅层实现50nm及以下的硅栅结构。 | ||
地址 | 100029 北京市朝阳区北土城西路3号 |