发明名称 |
晶片封装结构的制程 |
摘要 |
一种晶片封装结构的制程如下所述。首先,提供一图案化导电层与一图案化防焊层图案化防焊层,其中图案化导电层具有多个第一开口,图案化防焊层配置于图案化导电层上。接着,接合多个晶片至图案化导电层上,以使晶片与图案化防焊层分别配置于图案化导电层的相对二表面上。然后,藉由多条导线电性连接晶片至图案化导电层,其中导线贯穿图案化导电层的第一开口。之后,形成至少一封装胶体,以包覆图案化导电层、图案化防焊层、晶片以及导线。然后,分割封装胶体、图案化导电层与图案化防焊层。 |
申请公布号 |
TWI393193 |
申请公布日期 |
2013.04.11 |
申请号 |
TW098101390 |
申请日期 |
2009.01.15 |
申请人 |
南茂科技股份有限公司 新竹县新竹科学工业园区研发一路1号;百慕达南茂科技股份有限公司 百慕达 |
发明人 |
沈更新;林峻莹 |
分类号 |
H01L21/56;H01L23/28 |
主分类号 |
H01L21/56 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
主权项 |
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地址 |
百慕达 |