发明名称 |
肖特基二极管 |
摘要 |
本发明公开了一种肖特基二极管,包括N型衬底上的N型外延,N型外延中的深沟槽,深沟槽中具有二氧化硅层,深沟槽中的二氧化硅层内侧具有多晶硅区,在深沟槽之间的N型外延上方具有肖特基接触区,肖特基接触区上具有金属层,其中,所述二氧化硅层的厚度大于1000埃,多晶硅区与所述金属层通过金属线连接。本发明的肖特基二极管,在深沟槽中填充的二氧化硅层厚度大于1000埃时能耐受80V以上的高压。 |
申请公布号 |
CN103035751A |
申请公布日期 |
2013.04.10 |
申请号 |
CN201210509046.7 |
申请日期 |
2012.11.23 |
申请人 |
上海华虹NEC电子有限公司 |
发明人 |
王飞 |
分类号 |
H01L29/872(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/872(2006.01)I |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 31211 |
代理人 |
丁纪铁 |
主权项 |
一种肖特基二极管,包括N型衬底上的N型外延,N型外延中的深沟槽,深沟槽中具有二氧化硅层,深沟槽中的二氧化硅层内侧具有多晶硅区,在深沟槽之间的N型外延上方具有肖特基接触区,肖特基接触区上具有金属层,多晶硅区与所述金属层通过金属线连接,其特征是:所述二氧化硅层的厚度大于1000埃。 |
地址 |
201206 上海市浦东新区川桥路1188号 |