发明名称 |
一种光散射颗粒测量装置及方法 |
摘要 |
本发明公开了一种光散射颗粒测量装置及方法,装置依次设置发散光束模块、测量区、接收透镜、多元光电探测器、透射光探测器、信号处理电路和模数转换器,测量区中的颗粒被发散光束照射,散射光与透射光同时被接收透镜收集,散射光投射到多元光电探测器的各个探测单元,得到散射光分布信号,入射光中未被散射的部分光被透射光探测器接收,得到透射光信号,信号处理电路和模数转换器对散射光分布信号和透射光信号进行放大、采集和转换,根据散射光分布信号和透射光信号计算得到颗粒粒径分布和浓度信息。本发明的有益效果是,解决了测量区与探测器过近引起的信号干扰问题,降低颗粒测量下限,可用于颗粒测量的多个领域。 |
申请公布号 |
CN102353621B |
申请公布日期 |
2013.04.03 |
申请号 |
CN201110176897.X |
申请日期 |
2011.06.28 |
申请人 |
上海理工大学 |
发明人 |
沈建琪;王华睿 |
分类号 |
G01N15/02(2006.01)I;G01N15/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海申汇专利代理有限公司 31001 |
代理人 |
吴宝根 |
主权项 |
一种光散射颗粒测量装置,其特征在于,该装置依次设置发散光束模块、测量区、接收透镜、多元光电探测器、透射光探测器、信号处理电路和模数转换器,所述的测量区位于由发散光束模块发出作为入射光束的发散光束中,位于测量区中的颗粒被发散光束照射,颗粒对入射光散射和吸收,发出散射光并导致入射光穿过测量区时光强减弱,入射光中未被散射和吸收的部分称作透射光,散射光与透射光同时被接收透镜收集,散射光投射到多元光电探测器的各个探测单元,得到散射光分布信号,入射光束中未被散射的部分光即透射光穿过多元光电探测器的中心小孔并被安装在小孔后面的透射光探测器接收,得到透射光信号,信号处理电路和模数转换器对散射光分布信号和透射光信号进行放大、采集和转换,根据散射光分布信号和透射光信号计算得到颗粒粒径分布和浓度信息。 |
地址 |
200093 上海市杨浦区军工路516号 |