发明名称 | 硅基板的制造方法及硅基板 | ||
摘要 | 本发明是一种硅基板的制造方法,其具备以下工序:第1热处理工序,其使用快速加热和快速冷却装置,在包含氮化膜形成环境气体、稀有气体及氧化性气体中的至少一种气体的第1环境中,在高于1300℃且为硅的熔点以下的第1温度保持1~60秒,来对硅基板实施快速热处理;以及第2热处理工序,其接续该第1热处理工序,控制在第2温度及第2环境,并在经前述控制的第2温度及第2环境中,对前述硅基板实施快速热处理,该第2温度及第2环境是用以抑制前述硅基板内部因空孔而产生缺陷。由此,提供一种硅基板的制造方法、及通过该方法所制得的硅基板,该硅基板,在距离表面至少1μm的深度,此深度成为组件制作区域,不存在氧析出物、COP、OSF等的会被RIE法所检测到的缺陷(RIE缺陷),并且生命周期是500μsec以上。 | ||
申请公布号 | CN103003927A | 申请公布日期 | 2013.03.27 |
申请号 | CN201180034596.1 | 申请日期 | 2011.06.07 |
申请人 | 信越半导体股份有限公司 | 发明人 | 冈铁也;江原幸治;高桥修治 |
分类号 | H01L21/324(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/324(2006.01)I |
代理机构 | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人 | 张永康;向勇 |
主权项 | 一种硅基板的制造方法,其是制造硅基板的方法,其特征在于,其至少具备以下工序:第1热处理工序,该工序对从由柴氏法所成长的单晶硅晶棒切割出来的硅基板,使用快速加热和快速冷却装置,在包含氮化膜形成环境气体、稀有气体及氧化性气体中的至少一种气体的第1环境中,在高于1300℃且为硅的熔点以下的第1温度保持1~60秒,来实施快速热处理;以及第2热处理工序,该工序接续该第1热处理工序,控制在第2温度及第2环境,并在经前述控制的第2温度及第2环境中,对前述硅基板实施快速热处理,该第2温度及第2环境是用以抑制前述硅基板内部因空孔而产生缺陷。 | ||
地址 | 日本东京都 |