发明名称 |
用于侦测非挥发式记忆体之相邻区块干扰现象的侦测方法 |
摘要 |
用于侦测一非挥发式记忆体之一相邻区块干扰现象的侦测方法,包含有于一第一时间点,逐一抹除及写入一测试资料至该非挥发式记忆体中复数个待测区块之每一区块;根据该复数个待测区块之每一区块所包含之一序号,将该复数个待测区块归属于一第一区块群及一第二区块群;于一第二时间点,读取该第一区块群之每一区块所储存之资料,并检查是否与该第一时间点所写入之测试资料相符合,以产生一第一检查结果;以及根据该第一检查结果,判断该第一区块群之每一区块之有效性。 |
申请公布号 |
TWI390537 |
申请公布日期 |
2013.03.21 |
申请号 |
TW097150063 |
申请日期 |
2008.12.22 |
申请人 |
联咏科技股份有限公司 新竹市新竹科学园区创新一路13号2楼 |
发明人 |
王政斌 |
分类号 |
G11C16/06;G11C29/12 |
主分类号 |
G11C16/06 |
代理机构 |
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代理人 |
戴俊彦 新北市永和区福和路389号6楼之3;吴丰任 新北市永和区福和路389号6楼之3 |
主权项 |
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地址 |
新竹市新竹科学园区创新一路13号2楼 |