发明名称 | 用于光学粒子计数器的校准验证的系统和方法 | ||
摘要 | 在此描述了一种便携式、低功耗的光学粒子计数器校准验证系统,以及用于验证气态或液态粒子计数器的校准状态的可靠且灵敏的方法。在此描述的校准验证方法可用于快速地确定光学粒子计数器在使用中的校准状态,以及允许终端用户在推荐的校准日程到来前确定光学粒子计数器是否需要校准。 | ||
申请公布号 | CN101911139B | 申请公布日期 | 2013.03.20 |
申请号 | CN200880124396.3 | 申请日期 | 2008.11.14 |
申请人 | 粒子监测系统有限公司 | 发明人 | T·贝茨 |
分类号 | G08B17/10(2006.01)I | 主分类号 | G08B17/10(2006.01)I |
代理机构 | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 | 代理人 | 郑建晖;杨勇 |
主权项 | 一种用于验证用于检测悬浮在流体中的粒子的光学粒子计数器的校准状态的校准验证系统,包括:一个粒子生成器,其用于向光学粒子计数器提供悬浮在流体中的具有预定尺寸分布的粒子;一个脉冲高度分析仪,其可操作地连接至所述光学粒子计数器,用于测量所述的具有预定尺寸分布的粒子的脉冲高度分布;以及一个校准验证分析仪,其可操作地连接至所述脉冲高度分析仪,用于通过下述方式分析所述脉冲高度分布:从所述脉冲高度分析仪接收所述的具有所述预定尺寸分布的粒子的脉冲高度分布;确定一个校准验证参数或一组校准验证参数;其中所述校准验证参数选自:具有所述预定尺寸分布的所述粒子的所述脉冲高度分布的中值;具有所述预定尺寸分布的所述粒子的所述脉冲高度分布的宽度;所述光学粒子计数器的本底噪声的斜率;所述光学粒子计数器的零计数失效点;以及信噪比,其等于具有所述预定尺寸分布的所述粒子的所述脉冲高度分布的所述中值和所述光学粒子计数器的所述零计数失效点之间的比率;以及将所述一个校准验证参数或所述一组校准验证参数与一个或多个参考值进行比较;其中,所述校准验证系统是所述光学粒子计数器的集成部件。 | ||
地址 | 美国科罗拉多 |