发明名称 |
判断数字电路板测试探笔的接触性的检查方法及测试探笔 |
摘要 |
本发明公开了一种用于判断数字电路板测试探笔的接触性的检查方法以及具有接触检查功能的数字电路板测试探笔,应用于数字电路板测试领域。本发明利用预置电压和电压比较的方法,在不影响探笔采集或接收到的数字信号的前提下,可以判断显示探笔是否与电路板上的测试点接触良好,从而避免了因探笔的接触不良导致的对测试结果的误判断。 |
申请公布号 |
CN102967791A |
申请公布日期 |
2013.03.13 |
申请号 |
CN201210457590.1 |
申请日期 |
2012.11.15 |
申请人 |
南京航空航天大学 |
发明人 |
李开宇;刘文波;周博;张波;房磊;沈旭;徐贵力 |
分类号 |
G01R31/02(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/02(2006.01)I |
代理机构 |
南京经纬专利商标代理有限公司 32200 |
代理人 |
艾中兰 |
主权项 |
一种判断数字电路板测试探笔的接触性的检查方法,其特征在于包括: 预置未接触状态下探笔的逻辑状态为数字电路逻辑状态之外的第三种逻辑状态;判断探笔与数字电路板接触点处的电路逻辑状态;根据探笔触点的电路逻辑状态判断触点是否良好接触到数字电路板中。 |
地址 |
210016 江苏省南京市白下区御道街29号 |