发明名称 |
一种铜大马士革结构的形成方法 |
摘要 |
本发明提供一种铜大马士革结构的形成方法,其包括在衬底上,沉积层间介电质和牺牲层,并图形化所述光刻胶;以图形化的光刻胶为掩膜,刻蚀所述牺牲层和层间介电质,形成金属互连线沟槽;于所述沟槽内,依序淀积阻挡层和金属互连线;通过化学机械平坦化工艺,去除多余的铜、阻挡层和牺牲层,最终形成铜大马士革结构。因此,通过本发明的方法,在层间介电质上淀积一层牺牲层来代替原有的介电质抗反射涂层,既能减少光刻胶的驻波效应,提高光刻性能;又能作为蚀刻工艺中的牺牲层,减少铜大马士革结构中的层间介电质的损失,使得金属互连线的厚度增加并且稳定可控,提高了晶圆电学性能的可控性和稳定性。 |
申请公布号 |
CN102969274A |
申请公布日期 |
2013.03.13 |
申请号 |
CN201210430906.8 |
申请日期 |
2012.11.01 |
申请人 |
上海集成电路研发中心有限公司 |
发明人 |
黄仁东 |
分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
代理机构 |
上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 |
代理人 |
吴世华;林彦之 |
主权项 |
一种铜大马士革结构的形成方法,其特征在于,所述的方法包括如下步骤:步骤S1:在衬底上,依序形成层间介电质、牺牲层和光刻胶,并图形化所述光刻胶,其中,所述牺牲层的材料是氮化硅或者氮化硅与钽、钽氮化物、钛、钛氮化物中一种或几种物质的组合;步骤S2:以图形化的光刻胶为掩膜,依序刻蚀所述牺牲层和层间介电质,以在所述层间介电质中形成金属互连线沟槽;步骤S3:于所述金属互连线沟槽内淀积阻挡层,填充铜金属,以形成金属互连线;步骤S4:通过化学机械平坦化工艺,去除多余的铜、阻挡层和牺牲层,最终形成铜大马士革结构。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高斯路497号 |