一种毛刺干扰触发芯片闩锁效应的测试方法

摘要

本发明提出的芯片闩锁效应的测试方法，用来测试芯片针对不同的高频振荡毛刺信号是否会触发闩锁效应。测试时，每次需要选择一次毛刺脉冲波的最大尖峰电压值、最大脉冲宽度Twidth、毛刺密集度这三个参数作为一个测试点，一个测试点进行一次触发闩锁效应测试，不同的最大尖峰电压值、最大脉冲宽度Twidth、毛刺密集度作为不同的测试点，采用多个测试点分别进行触发闩锁效应测试，最终可形成三维的毛刺触发Latch-Up Test测试结果分布。

主权项

一种毛刺干扰触发芯片闩锁效应的测试方法，其特征在于，用于触发闩锁效应的波形为多个间隔一定宽度的毛刺脉冲波，将一个毛刺脉冲波作为一个测试点，按照从小到大的顺序分别就各测试点的最大尖峰电压值、最大脉冲宽度、毛刺密集度进行闩锁效应触发测试，并在由最大尖峰电压值、最大脉冲宽度、毛刺密集度组成的三维的毛刺触发测试结果分布图上对每个测试点的闩锁效应触发测试结果进行标注，根据不同测试点的最大尖峰电压值、最大脉冲宽度、毛刺密集度的测试结果分布，得到芯片对不同的毛刺干扰触发闩锁效应测试的反应结果。