用于测试待测试电路的设备和方法

摘要

本发明涉及用于测试待测试电路的设备和方法。用于测试待测试电路的设备包括校正子确定器（110）、测试序列提供器（120）和分析电路（130）。校正子确定器（110）基于编码二进制字确定误差校正子比特序列。在此，误差校正子比特序列表明编码二进制字是否是用于对编码二进制字进行编码所使用的误差校正码的码字。此外，至少每当误差校正子比特序列表明编码二进制字是误差校正码的码字时，测试序列提供器就给待测试电路（102）提供与所确定的误差校正子比特序列不同的测试比特序列。另外分析电路（130）基于待测试电路（102）的由测试比特序列引起的测试输出信号来识别通过待测试电路（102）对测试比特序列的有误差的处理。

主权项

用于测试待测试电路（102, 13, 24, 44, 54, 641, 642, 742, 86）的设备（100, 200, 300, 400, 500, 600, 700, 800, 900, 1000, 1100），具有以下特征：校正子确定器（110, 11, 21, 41, 51, 61, 81），其被设计用于基于编码二进制值（v’）确定误差校正子比特序列（s(v'）)，其中误差校正子比特序列（s(v')）表明，编码二进制字（v’）是否是用于对编码二进制字（v’）进行编码所使用的误差校正码（C）的码字；测试序列提供器（120），其被设计用于至少每当误差校正子比特序列（s(v')）表明编码二进制字（v’）是误差校正码（C）的码字时，就给待测试电路（102, 13, 24, 44, 54, 641, 642, 742, 86）提供与所确定的误差校正子比特序列（s(v')）不同的测试比特序列（Ti）；和分析电路（130, 14, 25, 58, 89），其被设计用于基于待测试电路（102, 13, 24, 44, 54, 641, 642, 742, 86）的通过测试比特序列（Ti）引起的测试输出信号（R(Ti)'）识别通过待测试电路（102, 13, 24, 44, 54, 641, 642, 742, 86）对测试比特序列（Ti）的有误差的处理。