发明名称 | 观测系统 | ||
摘要 | 一种观测系统,适用于观测一个待测物,并包含位于该待测物的一侧的一个同轴灯源、一个线性灯源、一个半穿反透镜及一个观测单元。该同轴灯源包括一个发光表面及一根与该待测物的一个待测平面平行的第一光学轴。该线性灯源包括一根第二光学轴,该第二光学轴与一根该待测平面的法线夹一个入射角。该半穿反透镜与该发光表面夹45度,且夹角开口朝向该待测平面。该观测单元朝向该待测物且沿一根第三光学轴取像,该第三光学轴通过该待测物并该法线夹一个与该入射角大小相同的反射角。如此,在使用该线性灯源时及该同轴灯源时,该观测单元均能以明视野观测。 | ||
申请公布号 | CN202757891U | 申请公布日期 | 2013.02.27 |
申请号 | CN201220371849.6 | 申请日期 | 2012.07.30 |
申请人 | 由田新技股份有限公司 | 发明人 | 陈登文;江庆原 |
分类号 | G01N21/88(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I |
代理机构 | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人 | 任永武;须一平 |
主权项 | 一种观测系统,适用于观测一个待测物,其特征在于:该观测系统包含位于该待测物的一侧的一个同轴灯源、一个线性灯源、一个半穿反透镜及一个观测单元;该同轴灯源为面光源,包括一个发光表面及一根与该待测物的一个待测平面平行的第一光学轴,并沿该第一光学轴朝该待测物发出光线;该线性灯源包括一根通过该待测物的第二光学轴,该第二光学轴与一根通过该待测物且垂直该待测平面的法线夹一个入射角;该半穿反透镜与该发光表面夹45度,且夹角开口朝向该待测平面;该观测单元朝向该待测物且沿一根第三光学轴取像,该第三光学轴通过该待测物并与该法线夹一个与该入射角大小相同的反射角,该同轴灯源发出的光线先经该半穿反透镜反射至该待测物,并自该待测物反射后再透射经该半穿反透镜而到达该观测单元;该线性灯源沿该第二光学轴发出光线,该光线先透射经该半穿反透镜而到达该待测物,并自该待测物反射后再透射经该半穿反透镜而到达该观测单元。 | ||
地址 | 中国台湾新北市中和区连城路268号10楼之1 |