发明名称 测试站自动对位方法与装置
摘要 本发明揭露一种测试站自动对位方法。测试站自动对位方法包含以下步骤。首先输入测试机台验证正确要传回的Bin。接着选择要进行自动对位检查的测试站。然后置入受测元件于欲进行自动对位检查的测试站。接着执行自动对位检查。然后判断测试机台与检选机台测试站对位是否正确,若测试站对位不正确则锁住测试站。
申请公布号 TWI386659 申请公布日期 2013.02.21
申请号 TW098100575 申请日期 2009.01.09
申请人 京元电子股份有限公司 新竹市公道五路2段81号 发明人 杨贸能;陈志良;姜智仁
分类号 G01R31/01 主分类号 G01R31/01
代理机构 代理人 陈达仁 台北市中山区长春路156号5楼
主权项
地址 新竹市公道五路2段81号
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