发明名称 |
半导体结构 |
摘要 |
本实用新型是有关于一种半导体结构,其包含有载体以及多个混成凸块,该载体具有表面及多个凸块下金属层,上述混成凸块形成于上述凸块下金属层上,各该混成凸块具有芯部及接合部,该芯部具有顶面,该接合部包含有第一接合层及第二接合层,该第一接合层形成于该芯部的该顶面及该凸块下金属层,其中该第一接合层具有基底部、凸出部及容置空间,该基底部具有上表面,该凸出部凸出于该上表面,且该凸出部位于该芯部上方,该容置空间位于该凸出部外侧,该第二接合层覆盖该凸出部及该上表面且填充于该容置空间。 |
申请公布号 |
CN202736907U |
申请公布日期 |
2013.02.13 |
申请号 |
CN201220380055.6 |
申请日期 |
2012.08.01 |
申请人 |
颀邦科技股份有限公司 |
发明人 |
郭志明;何荣华;张世杰;黄家晔;谢庆堂 |
分类号 |
H01L23/488(2006.01)I;H01L23/13(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/488(2006.01)I |
代理机构 |
北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 |
代理人 |
寿宁;张华辉 |
主权项 |
一种半导体结构,其特征在于其至少包含:载体,其具有表面及多个形成于该表面的凸块下金属层;以及多个混成凸块,其形成于上述凸块下金属层上,各该混成凸块具有芯部及接合部,该芯部具有顶面,该接合部包含有第一接合层及第二接合层,该第一接合层形成于该芯部的该顶面及该凸块下金属层,其中该第一接合层具有基底部、凸出部及容置空间,该基底部具有上表面,该凸出部凸出于该上表面,且该凸出部位于该芯部上方,该容置空间位于该凸出部外侧,该第二接合层覆盖该凸出部及该上表面且填充于该容置空间,各该基底部具有第一高度,各该第二接合层具有第二高度。 |
地址 |
中国台湾台湾新竹科学工业园区新竹市东区力行五路3号 |