发明名称 一种X射线灰分测量装置及方法
摘要 本发明公开了一种X射线灰分测量装置及方法,该装置包括测量容器,其中设置有被测物;静止平台或转动平台,该测量容器设置在该静止平台或该转动平台上;X射线源,发射X射线照射该测量容器;m(m=1、2、3......m)个X射线探测器,用于接收穿透该被测物的X射线并将其转化为探测信号;用于测量该被测物质的厚度值的测厚装置,或者,用于测量该被测物的重量值的测重装置;数据处理单元,用于根据该电信号以及该厚度值,或者,根据该电信号以及该重量值计算煤灰分值,该数据处理装置根据以下数学模型计算该煤灰分值:或
申请公布号 CN102269718B 申请公布日期 2013.02.13
申请号 CN201110162779.3 申请日期 2011.06.16
申请人 邸生才 发明人 邸生才
分类号 G01N23/02(2006.01)I;G01N23/06(2006.01)I 主分类号 G01N23/02(2006.01)I
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人 梁挥;田景宜
主权项 一种X射线煤灰分测量装置,其特征在于,包括:测量容器,其中设置有被测物,或输送机,用于输送该被测物;静止平台或转动平台,该测量容器设置在该静止平台或该转动平台上;X射线源,发射X射线照射该被测物;m个X射线探测器,用于接收穿透该被测物的X射线并将其转化为探测信号;用于测量该被测物的厚度值的测厚装置,或者,用于测量该被测物的重量值的测重装置;数据处理单元,用于根据该探测信号以及该厚度值,或者,根据该探测信号以及该重量值计算煤灰分值,该数据处理单元根据以下数学模型计算该煤灰分值: <mrow> <mi>H</mi> <mo>=</mo> <msub> <mi>K</mi> <mn>2</mn> </msub> <mo>&CenterDot;</mo> <mfrac> <mrow> <mo>[</mo> <msubsup> <mi>&Sigma;</mi> <mrow> <msub> <mi>m</mi> <mi>i</mi> </msub> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mi>m</mi> </msubsup> <msub> <mi>k</mi> <mrow> <mn>1</mn> <mi>mi</mi> </mrow> </msub> <mi>ln</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mfrac> <msub> <mi>N</mi> <mi>imi</mi> </msub> <msub> <mi>N</mi> <mi>omi</mi> </msub> </mfrac> <mo>)</mo> </mrow> <mo>/</mo> <mi>m</mi> <mo>]</mo> </mrow> <msub> <mi>d</mi> <mi>i</mi> </msub> </mfrac> </mrow>或 <mrow> <mi>H</mi> <mo>=</mo> <msub> <mi>K</mi> <mn>2</mn> </msub> <mo>&CenterDot;</mo> <mfrac> <mrow> <mo>[</mo> <msubsup> <mi>&Sigma;</mi> <mrow> <msub> <mi>m</mi> <mi>i</mi> </msub> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mi>m</mi> </msubsup> <msub> <mi>k</mi> <mrow> <mn>1</mn> <mi>mi</mi> </mrow> </msub> <mi>ln</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mfrac> <msub> <mi>N</mi> <mi>imi</mi> </msub> <msub> <mi>N</mi> <mi>omi</mi> </msub> </mfrac> <mo>)</mo> </mrow> <mo>/</mo> <mi>m</mi> <mo>]</mo> </mrow> <msub> <mi>w</mi> <mi>i</mi> </msub> </mfrac> </mrow>其中H为煤灰分值,m为该X射线探测器的总数,mi为X射线探测器的序号,K1mi为第mi个X射线探测器的重量标定系数,K2为煤灰分标定系数,Nimi为测量容器中有被测物时,第mi个X射线探测器输出的探测信号,N0mi为测量容器中无被测物时,第mi个X射线探测器输出的探测信号,di为测厚装置测量的被测物的厚度值,Wi为测重装置测量的被测物的重量值。
地址 100037 北京市西城区百万庄大街中里2号楼5门402室