发明名称 |
半导体积体电路装置之制造方法 |
摘要 |
本发明系对于为了防止多层配线基板1翘曲而将卡固持器变厚,造成薄膜片2埋入于卡固持器内,使得探针7与测试垫片不能够确实接触的不良状况,而采用于仅对薄膜片2之中心区域IA施加张力之状态下,使薄膜片2黏接于黏接环6,而不对外周区域OA施加张力之构造,藉由提高用以规定薄膜片2距探针面之高度之黏接环6的高度,而提高薄膜片2距探针面之高度。 |
申请公布号 |
TWI385741 |
申请公布日期 |
2013.02.11 |
申请号 |
TW094133557 |
申请日期 |
2005.09.27 |
申请人 |
瑞萨电子股份有限公司 日本 |
发明人 |
松本秀幸;寄崎真吾;长谷部昭男;本山康博;冈元正芳;成塚康则 |
分类号 |
H01L21/66;G01R1/073;G01R31/26;G01R31/28 |
主分类号 |
H01L21/66 |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼 |
主权项 |
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地址 |
日本 |